1.

国際会議録

国際会議録
Aulenbacher, K. ; Schuler, J. ; von Harrach, D. ; Reichert, E. ; Roethgen, J. ; Subashiev, A.V. ; Tioukine, V. ; Mamaev, Y.A. ; Yashin, Y.P.
出版情報: Sixth International Workshop on Nondestructive Testing and Computer Simulations in Science and Engineering : 10-16 June, 2002, St. Petersburg, Russia.  pp.22-25,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5127
2.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Reichert, E. ; Rompf, D. ; Bick, W.
出版情報: 2005 SAE world congress : technical paper.  2005.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2005
3.

国際会議録

国際会議録
Aulenbacher, K. ; Schuler, J. ; Harrach, D.V. ; Reichert, E. ; Roethgen, J. ; Subashiev, A.V. ; Tioukine, V. ; Yashin, Y.P.
出版情報: 10th International Symposium on Nanostructures: Physics and Technology.  pp.424-427,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5023