1.

国際会議録
国際会議録
1. Charge Pumping, Low Frequency Noise, And Floating Gate Characterization Techniques Of SiO2 Gate Insulators In MOSFETs
Deen, M.J. ; Raychaudhuri, A.
出版情報: Proceedings of the third Symposium on Silicon Nitride and Silicon Dioxide Thin Insulating Films.  pp.375-384,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-16
2.

国際会議録
国際会議録
2. Hot-Carrier Defect Length Propagation in LDD NMOSFETs
Raychaudhuri, A. ; Kwan, W.S. ; Deen, M.J. ; King, M.I.H.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Silicon Nitride and Silicon Dioxide Thin Insulating Films.  pp.242-258,  1997.  Pennington, New Jersey.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-10