1.

国際会議録
国際会議録
1. MOEMS: enabling technologies for large optical cross-connects
Chu,P.B. ; Lee,S.-S. ; Park,S. ; Tsai,M.-J. ; Brener,I. ; Peale,D. ; Doran,R.A. ; Pu,C.
出版情報: MOEMS and Miniaturized systems II : 22-24 October 2001, San Francisco, USA.  pp.55-65,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4561
2.

国際会議録
国際会議録
2. Improved phase unwrapping of a phase-shift interferometer using a precision XY-scanner
Park,S. ; Gweon,D. ; Moon,K.S.
出版情報: Optical engineering for sensing and nanotechnology (ICOSN '99) : 16-18 June 1999, Yokohama, Japan.  pp.12-15,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3740
3.

国際会議録
国際会議録
3. Identification of mechanical properties of composite lamina using a distributed piezoelectric transducer
Hong,D. ; Ryou,J. ; Park,S. ; Kim,S.J.
出版情報: Smart structures and materials 1998 : mathematics and control in smart structures : 2-5 March 1998, San Diego, California.  pp.31-41,  1998.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3323
4.

国際会議録
国際会議録
4. Automatic recognition of SAR targets using directional filter banks and higher-order neural networks
Park,S. ; Smith,M.J.T. ; Mersereau,R.M.
出版情報: Automatic target recognition IX : 7-9 April 1999, Orlando, Florida.  pp.118-125,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3718
5.

国際会議録
国際会議録
5. Linkage of nondestructive damage evaluation to structural system reliability
Park,S. ; Stubbs,N. ; Sikorsky,C.S.
出版情報: Smart structures and materials 1997 : Smart systems for bridges, structures, and highways : 5-6 March 1997, San Diego, California.  pp.234-245,  1997.  Bellingham.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3043
6.

国際会議録
国際会議録
6. Optimal rejection of the image extinction in confocal scanning microscopy
Seo,J. ; Park,S. ; Hee,L.J. ; Yoon,H. ; Gweon,D.
出版情報: Optomechatronic systems : 5-6 November 2000, Boston, USA.  pp.62-70,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4190
7.

国際会議録
国際会議録
7. Analysis of error and development of calibration's method to design precision rotating analyzer ellipsometer
Gil,H. ; Park,S. ; Jung,J. ; Gweon,D.
出版情報: Optomechatronic systems : 5-6 November 2000, Boston, USA.  pp.92-101,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4190
8.

国際会議録
国際会議録
8. Method to evaluate Nd: YAG laser microscopic spot welding process using reflected laser power
Park,S. ; Honma,R. ; Miyamoto,I.
出版情報: First International Symposium on Laser Precision Microfabrication : 14-16 June 2000, Omiya, Saitama, Japan.  pp.295-298,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4088
9.

国際会議録
国際会議録
9. Design and fabrication of near-field microscope using solid immersion lens
Yoon,H. ; Park,S. ; Lee,J. ; Seo,J. ; Gweon,D.
出版情報: Optomechatronic systems : 5-6 November 2000, Boston, USA.  pp.133-140,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4190
10.

国際会議録
国際会議録
10. Novel precision mechanical design for ellipsometer
Park,S. ; Jung,J. ; Gil,H. ; Gweon,D.
出版情報: Optomechatronic systems : 5-6 November 2000, Boston, USA.  pp.141-148,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4190