1.

国際会議録
国際会議録
1. Time-frequency domain reflectometry for smart wiring systems
Shin, Y.-J. ; Song, E.-S. ; Kim, J.-W. ; Park, J.-B. ; Yook, J.-G. ; Powers, E.J.
出版情報: Advanced signal processing algorithms, architectures, and implementations XII : 9-11 July 2002, Seattle, Washington, USA.  pp.86-95,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4791
2.

国際会議録
国際会議録
2. Haze detection and haze-induced process latitude variation for low-ki 193 nm lithography [6349-105]
Kim, S.-J. ; Park, J.-B. ; Kim, S.H. ; Kang, H.-Y. ; Kang, Y.-M. ; Park, S.-W. ; An, I. ; Oh, H.-K.
出版情報: Photomask Technology 2006.  pp.63492T-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6349