1.

国際会議録
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1. Analysis of MODIS solar diffuser screen vignetting function [5882-31]
Xie, X. ; Xiong, X. ; Moyer, D. ; Sun, J. ; Liu, X. ; Barnes, W.
出版情報: Earth observing systems X : 31 July-1 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.58820T-,  2005.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5882
2.

国際会議録
国際会議録
2. Four-years of on-orbit spectral characterization results for Aqua MODIS reflective solar bands [6361-26]
Xiong, X. ; Che, N. ; Xie, Y ; Moyer, D. ; Barnes, W. ; Guenther, B. ; Salomomson, V.
出版情報: Sensors, systems, and next-generation satellites X : 11-13 September 2006, Stockholm, Sweden.  pp.63610S-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6361
3.

国際会議録
国際会議録
3. DEPTH-RESOLVED RESIDUAL STRESS MEASUREMENTS IN HOMOEPITAXIAL DIAMOND FILMS GROWN BY CHEMICAL VAPOR DEPOSmON
Ager III, J.W. ; Plano, M.A. ; Moyer, D.
出版情報: Proceedings of the Fourth International Symposium on Diamond Materials.  pp.443-448,  1995.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 95-4
4.

国際会議録
国際会議録
4. MODIS solar calibration transmission screen modeling
Waluschka, E. ; Xiong, X. ; Moyer, D. ; Guenther, B. W. ; Barnes, W. L. ; Salomonson, V. V.
出版情報: Passive optical remote sensing of the atmosphere and clouds IV : 9-10 November 2004, Honolulu, Hawaii, USA.  pp.189-199,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5652
5.

国際会議録
国際会議録
5. MODIS polarization ray tracing analysis [5888-18]
Souaidia, N. ; Moyer, D. ; Meister, G. ; Pellicori, S. ; Waluschka, E. ; Voss, K.
出版情報: Polarization science and remote sensing II : 2-4 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.58880H-,  2005.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5888