1.

国際会議録
国際会議録
1. ELECTROMIGRATION INDUCED RESISTANCE CHANGES IN PASSIVATED ALUMINUM THIN FILM CONDUCTORS
Mockl, U. E. ; Lloyd, J. R. ; Arzt, E.
出版情報: Materials reliability in microelectronics III : symposium held April 12-15, 1993, San Francisco, California, U.S.A..  pp.301-,  1993.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 309
2.

国際会議録
国際会議録
2. Numerical Simulation of Surface Diffusion Controlled Motion and Shape Change of Electromigration Voids
Kraft, O. ; Mockl, U. E. ; Arzt, E.
出版情報: Materials reliability in microelectronics VI : symposium held April 8-12, 1996, San Francisco, California, U.S.A..  pp.161-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 428