1.

国際会議録

国際会議録
Michalkiewicz, A. ; Kujawinska, M. ; Krezel, J. ; Salbut, L. ; Wang, X. ; Bos, P. J.
出版情報: Eighth International Symposium on Laser Metrology : macro-, micro-, and nano-technologies applied in science, engineering, and industry : 14-18 February, 2005, Merida, Yucatan, Mexico.  pp.144-152,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5776
2.

国際会議録

国際会議録
Michalkiewicz, A. ; Marc, P. ; Kujawinska, M. ; Jaroszewicz, L.R.
出版情報: Optical fibers : applications : 31 August-2 September, 2005, Warsaw, Poland.  pp.59520C-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5952
3.

国際会議録

国際会議録
Michalkiewicz, A. ; Kujawinska, M.
出版情報: Photonics Applications in Astronomy, Communications, Industry, and High-Energy Physics Experiments II.  pp.467-474,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5484
4.

国際会議録

国際会議録
Michalkiewicz, A. ; Kujawinska, M. ; Marc, P. ; Military Univ. of Technology (Poland)
出版情報: Optical Micro- and Nanometrology in Microsystems Technology.  pp.618806-618806,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6188
5.

国際会議録

国際会議録
Michalkiewicz, A. ; Kujawinska, M. ; Lymarenko. R. ; Budnyk, O. ; Wang, X. ; Bos, P. J.
出版情報: Liquid Crystals: Optics and Applications.  pp.59470G-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5947
6.

国際会議録

国際会議録
Michalkiewicz, A. ; Kujawinska, M. ; Salbut, L.
出版情報: Optical Metrology in Production Engineering.  pp.513-520,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5457
7.

国際会議録

国際会議録
Michalkiewicz, A. ; Kujawinska, M. ; Kozacki, T. ; Wang, X. ; Bos, P.J.
出版情報: Interferometry XII: Techniques and Analysis.  pp.85-94,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5531