1.

国際会議録
国際会議録
1. HIGH MOBILITY TWO-DIMENSIONAL ELECTRON GAS IN MODULATION-DOPED Si/SiGe HETEROSTRUCTURES
Wang, P.J. ; Meyerson, B.S. ; Ismail, K. ; Fang, F.F. ; Nocera, J.
出版情報: Silicon molecular beam epitaxy : symposium held April 29-May 3, 1991, Anaheim, California, U.S.A..  pp.403-408,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 220
2.

国際会議録
国際会議録
2. Operation of Silicon-Germanium CMOS on Sapphire Technology at Cryogenic Temperatures
Mathew, S.J. ; Dubbelday, W.B. ; Cressler, J.D. ; Ott, J. ; Chu, J.O. ; Meyerson, B.S. ; Kavanagh, K.L. ; Lagnado, I.
出版情報: Proceedings of the fourth Symposium on Low Temperature Electronics and High Temperature Superconductivity.  pp.270-278,  1997.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 97-2
3.

国際会議録
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3. THERMAL STABILITY OF Si/Si0.85Ge0.15/Si MODULATION DOPED DOUBLE HETEROSCTRUCTURES
Wang, P.J. ; Meyerson, B.S. ; Fahey, P.M. ; LeGoues, F. ; Scilla, G.J. ; Cotte, J.M.
出版情報: Layered structures : heteroepitaxy, superlattices, strain, and metastability : symposium held November 27-December 1, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.89-94,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 160
4.

国際会議録
国際会議録
4. Limitations of CMOS Scaling: What's Next (Invited paper)
Dunn, J. ; Joseph, A. ; Harame, D. ; Nowak, E.J. ; Meyerson, B.S.
出版情報: ULSI Process Integration : proceedings of the International Symposium.  pp.27-44,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-06
5.

国際会議録
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5. INVITED: SILICON-GERMANIUM PROCESS TECHNOLOGY
Subbanna, S. ; Ahlgren, D. ; Harame, D. ; Meyerson, B.S.
出版情報: Silicon materials science and technology : proceedings of the Eighth International Symposium on Silicon Materials Science and Technology.  pp.1406-1417,  1998.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 98-1(2)