1.

国際会議録

国際会議録
Staley, T.W. ; Matyi, R.J.
出版情報: Computational methods in materials science : symposium held April 27-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A..  pp.377-382,  1992.  Pittsburgh, PA.  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 278
2.

国際会議録

国際会議録
Moore, T.M. ; Matteson, S. ; Duncan, W.M. ; Matyi, R.J.
出版情報: Materials characterization : symposium held April 15-17, 1986, Palo Alto California, U.S.A..  pp.379-384,  1986.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 69
3.

国際会議録

国際会議録
Sakai, Shiro ; Chang, S.S. ; Matyi, R.J. ; Shichijo, H.
出版情報: Heteroepitaxy on silicon : fundamentals, structure, and devices : symposium held April 5-8, 1988, Reno, Nevada, U.S.A..  pp.155-160,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 116
4.

国際会議録

国際会議録
Matyi, R.J. ; Shichijo, H. ; Kim, T.S. ; Tsai, H.L.
出版情報: Heteroepitaxy on silicon : fundamentals, structure, and devices : symposium held April 5-8, 1988, Reno, Nevada, U.S.A..  pp.105-110,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 116
5.

国際会議録

国際会議録
Moran, P.D. ; Matyi, R.J.
出版情報: Defects in materials : symposium held November 26-29, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.463-468,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 209
6.

国際会議録

国際会議録
Matyi, R.J.
出版情報: Analytical and diagnostic techniques for semiconductor materials, devices, and processes : joint proceedings of the symposia on: ALTECH 2003, Analytical Techniques for Semiconductor Materials and Process Characterization IV, Paris, France and the 202nd Meeting of the Electrochemical Society, Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices VI, Salt Lake City, Utah.  pp.440-454,  2003.  Pennington, NJ.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5133
7.

国際会議録

国際会議録
Inglefield, H.E. ; Matyi, R.J. ; Korenstein, R.
出版情報: Evolution of thin-film and surface microstructure : symposium held November 26-December 1, 1990, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.543-548,  1991.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 202
8.

国際会議録

国際会議録
Matyi, R.J.
出版情報: Analytical and diagnostic techniques for semiconductor materials, devices, and processes : joint proceedings of the symposia on: ALTECH 2003, Analytical Techniques for Semiconductor Materials and Process Characterization IV, Paris, France and the 202nd Meeting of the Electrochemical Society, Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices VI, Salt Lake City, Utah.  pp.440-454,  2003.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-3
9.

国際会議録

国際会議録
Perkins, N.R. ; Horton, M.N. ; Matyi, R.J. ; Bandie, Z.Z. ; McGill, T.C. ; Kuech, T.F.
出版情報: Proceedings of the Thirteenth International Symposium on Chemical Vapor Deposition.  pp.336-341,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-5