1.

国際会議録
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1. Optical and local current studies on InAs/GaAs quantum dots [6034-24]
Li T. X ; Chen P. P ; Wang F. Z ; Chen Z. H ; Chen X. S ; Lu W.
出版情報: ICO20: optical design and fabrication : 21-26 August 2005, Changchun, China.  pp.60340O-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6034
2.

国際会議録
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2. Preparation and optical properties of ZnO nanoparticles [6029-32]
Zhong H. ; Wang J. ; Zhou M. ; Wang S. ; Li Z. ; Xu W. ; Chen X. ; Lu W.
出版情報: ICO20 : materials and nanostructures : 21-26 August, 2005, Changchun, China.  pp.60290W-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6029
3.

国際会議録
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3. Substrate bias effect on preparation of nanocrystalline silicon carbide thin films in helicon wave plasma chemical vapor depostion [6029-34]
Yu W. ; Lu W. ; Wang C. ; Ding W. ; Fu G.
出版情報: ICO20 : materials and nanostructures : 21-26 August, 2005, Changchun, China.  pp.60290Y-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6029
4.

国際会議録
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4. Thermal annealing effects on the optical properties of amorphous silicon carbide films deposited by pulsed laser ablation [6029-39]
Yu W. ; Lu W. ; Zhang L. ; Sun Y. ; Fu G.
出版情報: ICO20 : materials and nanostructures : 21-26 August, 2005, Changchun, China.  pp.602913-602913,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6029
5.

国際会議録
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5. Phase mapping of the poling process in the RuO2:LiNbO3 crystal by digital holographic interferometry [6293-34]
Qu W. ; Liu D. ; Zhi Y. ; Luan Z. ; Wang C. ; Lu W. ; Liu L.
出版情報: Interferometry XIII: Applications.  pp.62930X-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6293
6.

国際会議録
国際会議録
6. Data modeling of the next generation GPS information system [6280-115]
Lu W. ; Liu X. ; Jiang X. ; Xu Z.
出版情報: Third International Symposium on Precision Mechanical Measurements.  pp.628036-628036,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6280
7.

国際会議録
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7. Correlation target recognition for laser radar [6027-109]
Sun J. ; Lu W. ; Li Q. ; Wang Q.
出版情報: ICO20: Optical Information Processing.  pp.602731-602731,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6027
8.

国際会議録
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8. Kansei image retrieval based on region of interest [6043-78]
Lu W. ; Ni L.
出版情報: MIPPR 2005: SAR and Multispectral Image Processing.  pp.604326-604326,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6043
9.

国際会議録
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9. Organic Quantum well light-emitting dioeds [6038-69]
Chan J. ; Lu W. ; Ng A. M. C ; Djuri-i- A. B ; Raki- A. D
出版情報: Photonics: Design, Technology, and Packaging II.  pp.60381M-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6038
10.

国際会議録
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10. Effect of radio frequency bias on the optical and structural properties of nanocrystalline SiC films deposited by helicon wave plasma enhanced chemical vapor deposition [6020-122]
Yu W. ; Wang C. ; Lu W. ; Cui S. ; Fu G.
出版情報: Optoelectronic Materials and Devices for Optical Communications.  pp.60203D-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6020