1.

国際会議録

国際会議録
Look, David C.
出版情報: Degradation mechanisms in III-V compound semiconductor devices and structures : symposium held April 17-18, 1990, San Francisco, California, U.S.A..  pp.23-32,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 184
2.

国際会議録

国際会議録
Look, David C.
出版情報: Physics and applications of defects in advanced semiconductors : symposium held November 29-December 1, 1993, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.361-,  1994.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 325
3.

国際会議録

国際会議録
Strzhemechny, Yuri M. ; Nemergut, John ; Bae, Junjik ; Look, David C. ; Brillson, Leonard J.
出版情報: Progress in semiconductors II : electronic and optoelectronic applications : symposium held December 2-5, 2002, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.111-118,  2003.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 744
4.

国際会議録

国際会議録
Yannuzzi, Mark J. ; Moser, Neil A. ; Fitch, Robert C. ; Jessen, Gregg H. ; Gillespie, James K. ; Via, Glen D. ; Crespo, Antonio ; Jenkins, Thomas J. ; Look, David C. ; Reynolds, Donald C.
出版情報: New applications for wide-bandgap semiconductors : symposium held April 22-24, 2003, San Francisco, California, U.S.A..  pp.305-314,  2003.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 764
5.

国際会議録

国際会議録
Lu, Hai ; Schaff, William J. ; Eastman, Lester F. ; Wu, J. ; Walukiewicz, Wladek ; Look, David C. ; Molnar, Richard J.
出版情報: GaN and related alloys - 2002 : symposium held December 2-6, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.317-322,  2002.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 743