1.

国際会議録

国際会議録
Persad, C. ; Raghunathan, S. ; Lee, B.-H. ; Bourell, D.L. ; Eliezer, Z. ; Marcus, H.L.
出版情報: High temperature/high performance composites : symposium held April 5-7, 1988, Reno, Nevada, U.S.A..  pp.23-28,  1988.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 120
2.

国際会議録

国際会議録
Persad, C. ; Lee, B.-H. ; Hou, C.-J. ; Eliezer, Z. ; Marcus, H.L.
出版情報: High-Temperature ordered intermetallic alloys III : symposium held November 29-December 1, 1988, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.717-722,  1989.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 133
3.

国際会議録

国際会議録
Lee, T.Y. ; Ihm, D. ; Kang, H.C. ; Lee, J.B. ; Lee, B.-H. ; Chin, S.-B. ; Cho, D.-H. ; Kim, Y.H. ; Yang, H.D. ; Yang, K.M.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVIII.  pp.623-632,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5375
4.

国際会議録

国際会議録
Ke, C.-M. ; Yu, S.-S. ; Wang, Y.-H. ; Chou, Y.-J. ; Chen, J.-H. ; Lee, B.-H. ; Chu, H.-Y. ; Lin, H.-T. ; Gau, T.-S. ; Lin, C.-H. ; Ku, Y.-C. ; Lin, B.J. ; Huang, J. ; Hsu, J.J. ; Liu, V. ; Hetzer, D. ; Yap, L. ; Yang, W. ; Araki, K.
出版情報: Metrology, Inspection, and Process Control for Microlithography XVIII.  pp.597-604,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5375