1.

国際会議録

国際会議録
Kniazewski, P. ; Kozacki, T. ; Kujawinska, M.
出版情報: Advanced characterization techniques for optics, semiconductors, and nanotechnologies II : 2-4 August, 2005, San Diego, California, USA.  pp.58780J-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5878
2.

国際会議録

国際会議録
Prytulak, M. ; Kozacki, T. ; Jozwicki, R.
出版情報: Optical manufacturing and testing VI : 31 July-1 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.58691C-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5869
3.

国際会議録

国際会議録
Kozacki, T. ; Jozwicki, R.
出版情報: Photonics applications in astornomy, communications, industry, and high-energy physics experiments : 23-26 May 2002, Wilga, Poland.  pp.409-413,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5125
4.

国際会議録

国際会議録
Kozacki, T.
出版情報: Photonics applications in astornomy, communications, industry, and high-energy physics experiments : 23-26 May 2002, Wilga, Poland.  pp.414-419,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5125
5.

国際会議録

国際会議録
Kozacki, T. ; Jozwicki, R.
出版情報: Photonics Applications in Astronomy, Communications, Industry, and High-Energy Physics Experiments II.  pp.437-444,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5484
6.

国際会議録

国際会議録
Kozacki, T. ; Prytulak, M. ; Jo-wicki, R.
出版情報: Lasers and Applications.  pp.59580I-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5958
7.

国際会議録

国際会議録
Michalkiewicz, A. ; Kujawinska, M. ; Kozacki, T. ; Wang, X. ; Bos, P.J.
出版情報: Interferometry XII: Techniques and Analysis.  pp.85-94,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5531
8.

国際会議録

国際会議録
kniazewski, P. ; Kozacki, T. ; Kujawinska, K. ; Wolinski, R. T.
出版情報: Optical Micro- and Nanometrology in Microsystems Technology.  pp.61880H-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6188