1.

国際会議録

国際会議録
Huynh, C. ; Rutten, M. ; Cheek, R. ; Linde, H.
出版情報: Proceedings of the First International Symposium on Chemical Mechanical Planarization.  pp.16-26,  1996.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 96-22
2.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Huynh, C. ; McMullen, P. ; Filatov, A. ; Imani, S. ; Toliyat, H.A. ; Talebi, S.
出版情報: A.S.M.E. paper.  2006.  New York, NY.  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Technical Paper : GT
シリーズ巻号: 2006
3.

テクニカルペーパー

テクニカルペーパー
Warner, J.R. ; Huynh, C. ; Janakiraman, G. ; Johnson, J.H. ; Bagley, S.T.
出版情報: 2002 SAE world congress : technical paper.  2002.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2002
4.

国際会議録

国際会議録
Faure, T. ; Fisch, E. ; Huynh, C. ; Crawford, S.
出版情報: 24th Annual BACUS Symposium on Photomask Technology.  pp.155-166,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5567
5.

国際会議録

国際会議録
Watts, A. ; Huang, C. ; Wang, Y. ; Huynh, C. ; Benson, C. ; Smith, A.
出版情報: Photomask and Next-Generation Lithography Mask Technology XIII.  pp.628303-628304,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6283