1.

国際会議録
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1. Development and characterization of advanced F2 laser source for 157-nm lithography (Abstract Only)
Vogler,K. ; Voss,F. ; Bergmann,E. ; Stamm,U. ; Govorkov,S.V. ; Hua,G. ; Walecki,W.J.
出版情報: Laser-induced damage in optical materials, 2000 : 32nd Annual Boulder Damage Symposium, proceedings, 16-18, October, 2000, Boulder, Colorado.  pp.444-444,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4347
2.

国際会議録
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2. Advanced F2 lasers for microlithography
Vogler,K. ; Stamm,U. ; Bragin,I. ; Voss,F. ; Govorkov,S.V. ; Hua,G. ; Kleinschmidt,J. ; Patzel,R.
出版情報: Optical microlithography XIII : 1-3 March 2000, Santa Clara, USA.  Part2  pp.1515-1528,  2000.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4000
3.

国際会議録
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3. Extracting peak statistics with recurrent network for detecting dim point-source targets in IR noise
Hua,G. ; Tao,L. ; Shen,Z. ; Sun,Z.
出版情報: Applications of artificial neural networks in image processing : 1-2 February 1996, San Jose, California.  pp.191-199,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2664
4.

国際会議録
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4. Real-time IR image processing and tracking system
Tao,L. ; Hua,G. ; Shen,Z.-K.
出版情報: Real-Time Imaging.  pp.138-144,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2661
5.

国際会議録
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5. Advanced F2 lasers for 157-nm lithography
Vogler,K. ; Klaft,I. ; Voss,F. ; Bragin,I. ; Bergmann,E. ; Nagy,T. ; Niemoeller,N. ; Paetzel,R. ; Govorkov,S.V. ; Hua,G.
出版情報: Optical Microlithography XIV.  4346  pp.1175-1182,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4346