1.

国際会議録

国際会議録
Michaelsen, C. ; Wiesmann, J. ; Hoffmann, C. ; Oehr, A. ; Storm, A.B. ; Seijbel, L.J.
出版情報: Advances in mirror technology for X-ray, EUV lithography, laser, and other applications : 7-8 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.211-219,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5193
2.

国際会議録

国際会議録
Storm, A.B. ; Michaelsen, C. ; Oehr, A. ; Hoffmann, C.
出版情報: X-ray sources and optics : 2-3 August 2004, Denver, Colorado, USA.  pp.177-181,  2004.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5537
3.

国際会議録

国際会議録
Rauh, A. ; Briechle, K. ; Hanebeck, U.D. ; Hoffmann, C. ; Bamberger, J. ; Grigoras, M.
出版情報: Location services and navigation technologies : 24 April 2003, Oriando, Florida, USA.  pp.39-50,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5084
4.

国際会議録

国際会議録
Hoffmann, C. ; Bhowal, P. ; McEvily, A. J.
出版情報: In situ composites IV : proceedings of the Materials Research Society annual meeting, November 1981, Boston Park Plaza Hotel, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.69-84,  1982.  New York.  North-Holland
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 12
5.

国際会議録

国際会議録
Niebuhr, R. ; Bachem, K. H. ; Behr, D. ; Hoffmann, C. ; Kaufmann, U. ; Lu, Y. ; Santic, B. ; Wagner, J. ; Arlery, M. ; Rouviere, J. L. ; Jurgensen, H.
出版情報: III-V nitrides : symposium held December 2-6, 1996, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.769-,  1997.  Pittsburgh, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 449
6.

国際会議録

国際会議録
Michaelsen, C. ; Wiesmann, J. ; Hoffmann, C. ; Wulf, K. ; Bruegemann, L. ; Storm, A.
出版情報: X-ray mirrors, crystals, and multilayers II : 10-11 July 2002, Seattle, Washington, USA.  pp.143-151,  2002.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4782
7.

国際会議録

国際会議録
Hoffmann, C. ; Lefloch, F. ; Quirion, D. ; Sanquer, M.
出版情報: Noise and Information in Nanoelectronics, Sensors, and Standards.  pp.20-30,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5115
8.

国際会議録

国際会議録
Rosen, P. ; Pizlo, Z. ; Hoffmann, C. ; Popescu, V.S.
出版情報: Stereoscopic Displays and Virtual Reality Systems XI.  pp.9-16,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5291