1.

国際会議録
国際会議録
1. Gearbox failure prediction using infrared camera
Kwan,C. ; Xu,R. ; Haynes,L.S.
出版情報: Thermosense XXIII : 16-19 April 2001, Orlando, USA.  pp.285-289,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4360
2.

国際会議録
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2. Target isolation for SAR images
Xu,R. ; Kwan,C. ; Haynes,L.S.
出版情報: Algorithms for synthetic aperture radar imagery VIII : 16-19 April 2001, Orlando, USA.  pp.191-194,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4382
3.

国際会議録
国際会議録
3. Bearing monitoring
Xu,R. ; Stevenson,M.W. ; Kwan,C. ; Haynes,L.S.
出版情報: Component and systems diagnostics, prognosis, and health management : 16-17 April 2001, Orlando, USA.  pp.216-218,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4389
4.

国際会議録
国際会議録
4. Composite delamination detection using infrared images
Kwan,C. ; Xu,R. ; Haynes,L.S.
出版情報: Infrared technology and applications XXVII : 16-20 April 2001, Orlando, USA.  pp.588-591,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4369
5.

国際会議録
国際会議録
5. Intelligent control of piezoelectric actuators for precision manufacturing
Kwan,C. ; Xu,R. ; Lang,J. ; Lin,C. ; Stevenson,M.W. ; Lin,Y. ; Ren,Z. ; Haynes,L.S.
出版情報: Intelligent systems in design and manufacturing.  pp.2-11,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3833
6.

国際会議録
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6. New data clustering technique and its applications
Kwan,C. ; Xu,R. ; Haynes,L.S.
出版情報: Data mining and knowledge discovery : theory, tools, and technology III : 16-17 April 2001, Orlando, USA.  pp.1-5,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4384