1.

国際会議録

国際会議録
Sahnow,D.J. ; Friedman,S.D. ; Moos,H.W. ; Green,J.C. ; Siegmund,O.H.W.
出版情報: Space telescopes and instruments V : 25-28 March 1998, Kona, Hawaii.  Part 1  pp.552-560,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3356
2.

国際会議録

国際会議録
Ohl,R.G. ; Barkhouser,R.H. ; Kennedy,M.J. ; Friedman,S.D.
出版情報: Space telescopes and instruments V : 25-28 March 1998, Kona, Hawaii.  Part 2  pp.854-865,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3356
3.

国際会議録

国際会議録
Sahnow,D.J. ; Moos,H.W. ; Ake,T.B. ; Andersson,B.-G. ; Andre,M. ; Artis,D. ; Berman,A.F. ; Blair,W.P. ; Brownsberger,K.R. ; Calvani,H.M. ; Chayer,P. ; Conard,S.J. ; Feldman,P.D. ; Friedman,S.D. ; Gaines,G.A. ; Green,J.C. ; Gummin,M.A. ; Joyce,J.B. ; Kaiser,M.E.
出版情報: UV, optical, and IR space telescopes and instruments : 29-31 March 2000, Munich, Germany.  pp.334-343,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4013
4.

国際会議録

国際会議録
Conard,S.J. ; Barkhouser,R.H. ; Evans,J.P. ; Friedman,S.D. ; Kruk,J.W. ; Moos,H.W. ; Ohl,R.G. ; Sahnow,D.J.
出版情報: Instrumentation for UV/EUV astronomy and solar missions :30 July- 1 August 2000 San Diego, USA.  pp.186-198,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4139
5.

国際会議録

国際会議録
Ohl,R.G. ; Barkhouser,R.H. ; Conard,S.J. ; Friedman,S.D. ; Hampton,J. ; Moos,H.W. ; Nikulla,P. ; Oliveira,C.M. ; Saha,T.T.
出版情報: Instrumentation for UV/EUV astronomy and solar missions :30 July- 1 August 2000 San Diego, USA.  pp.137-148,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4139
6.

国際会議録

国際会議録
Sahnow,D.J. ; Moos,H.W. ; Friedman,S.D. ; Blair,W.P. ; Conard,S.J. ; Kruk,J.W. ; Murphy,E.M. ; Oegerle,W.R. ; Ake,T.B.
出版情報: Instrumentation for UV/EUV astronomy and solar missions :30 July- 1 August 2000 San Diego, USA.  pp.131-136,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4139
7.

国際会議録

国際会議録
Ohl,R.G. ; Friedman,S.D. ; Saha,T.T. ; Barkhouser,R.H. ; Moos,H.W.
出版情報: EUV, x-ray, and gamma-ray instrumentation for astronomy X : 21-23 July 1999 Denver, Colorado.  pp.482-494,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3765
8.

国際会議録

国際会議録
Friedman,S.D. ; Conard,S.J. ; Barkhouser,R.H. ; Brownsberger,K.R. ; Cha,A.N. ; Fullerton,A.W. ; Kruk,J.W. ; Moos,W. ; Murphy,E.M. ; Ohl,R.G. ; Sahnow,D.J. ; Weaver,H.A.
出版情報: EUV, x-ray, and gamma-ray instrumentation for astronomy X : 21-23 July 1999 Denver, Colorado.  pp.460-469,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3765
9.

国際会議録

国際会議録
Oliveira,C.M. ; Retherford,K. ; Conard,S.J. ; Barkhouser,R.H. ; Friedman,S.D.
出版情報: EUV, x-ray, and gamma-ray instrumentation for astronomy X : 21-23 July 1999 Denver, Colorado.  pp.52-60,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3765
10.

国際会議録

国際会議録
Sahnow,D.J. ; Friedman,S.D. ; Oegerle,W.R. ; Moos,H.W. ; Green,J.C. ; Siegmund,O.H.W.
出版情報: Space telescopes and instruments IV : 6-7 August 1996, Denver, Colorado.  pp.2-10,  1996.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 2807