1.

国際会議録

国際会議録
Calafell, J. ; Holland, A. ; Hutchinson, I. ; French, M. ; Jones, L. ; Fant, A.
出版情報: UV, X-ray, and gamma-ray space instrumentation for astronomy XIV : 1-3 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.58981Q-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5898
2.

国際会議録

国際会議録
Holland, A. D. ; Castelli, C. ; Hutchinson, I. ; Smith, D. R. ; Calafell, J. ; Pool, P. ; Burt, D. ; Ambrosi, R. ; French, M.
出版情報: UV, X-ray, and gamma-ray space instrumentation for astronomy XIV : 1-3 August 2005, San Diego, California, USA.  pp.58980Y-,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5898
3.

国際会議録

国際会議録
Radford, P. ; French, M. ; Creager, S.
出版情報: Proceedings of the Symposium on New Directions in Electroanalytical Chemistry II.  pp.61-66,  1999.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 99-5
4.

国際会議録

国際会議録
French, M. ; Loughlin, P. ; Cohen, L.
出版情報: Proceedings of IMAC-XX : a Conference on Structural Dynamics, February 4-7, 2002, The Westin Los Angeles Airport, Los Angeles, California.  Volume I  pp.457-460,  2002.  Bethel, CT.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4753
5.

国際会議録

国際会議録
Cherng, J.G. ; Yin, G. ; Bonhard, R.B. ; French, M.
出版情報: Proceedings of IMAC-XX : a Conference on Structural Dynamics, February 4-7, 2002, The Westin Los Angeles Airport, Los Angeles, California.  Volume I  pp.290-294,  2002.  Bethel, CT.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4753
6.

国際会議録

国際会議録
Prydderch, M.L. ; Waltham, N.R. ; Morrissey, Q. ; French, M. ; Turchetta, R. ; Pool, P.
出版情報: Sensors and camera systems for scientific, industrial, and digital photography applications V : 19-21 January, 2004, San Jose, California, USA.  pp.175-185,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5301