1.

国際会議録
国際会議録
1. A Two-Step Low-Temperature Process for p-n Junction Formation Due to Hydrogen-Enhanced Thermal Donor Formation in p-Type Czochralski Silicon
Job, R. ; Fahrner, W. R. ; Kazuchits, N. M. ; Ulyashin, A. G.
出版情報: Hydrogen in semiconductors and metals : symposium held April 13-17, 1998, San Francisco, California, U.S.A..  pp.337-,  1998.  Warrendale, Penn..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 513
2.

国際会議録
国際会議録
2. Oxygen Gettering and Thermal Donor Formation at Postimplantation Annealing of Hydrogen-Implanted Czochralski Silicon
Ulyashin, A. G. ; Bumay, Yu. A. ; Fahrner, W. R. ; Ivanov, A. I. ; Job, R. ; Palmetshofer, L.
出版情報: Defects and diffusion in silicon processing : symposium held April 1-4, 1997, San Francisco, California, U.S.A..  pp.95-,  1997.  Pittsburg, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 469
3.

国際会議録
国際会議録
3. The Conversion of Czochralski Silicon From p-Type to n-Type by Hydrogen Plasma-Enhanced Thermal Donor Formation
Job, R. ; Borchert, D. ; Bumay, Yu. A. ; Fahrner, W. R. ; Grabosch, G. ; Khorunzhii, I. A. ; Ulyashin, A. G.
出版情報: Defects and diffusion in silicon processing : symposium held April 1-4, 1997, San Francisco, California, U.S.A..  pp.101-,  1997.  Pittsburg, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 469
4.

国際会議録
国際会議録
4. Temperature Sensor on Boron Ion Implanted Diamond
Job, R. ; Denisenko, A. V. ; Zaitsev, A. M. ; Werner, M. ; Melnikov, A. A. ; Fahrner, W. R.
出版情報: Diamond for electronic applications.  pp.249-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 416
5.

国際会議録
国際会議録
5. Comparison of Oxygen and Hydrogen Gettering at High-Temperature Postimplantation Annealing of Hydrogen- and Helium-Implanted Czochralski Silicon
Job, R. ; Fahrner, W. R. ; Ivanov, A. I. ; Palmetshofer, L. ; Ulyashin, A. G.
出版情報: Defect and impurity engineered semiconductors, II : symposium held April 13-17, 1998, San Francisco, California, U.S.A..  pp.425-,  1998.  Warrendale, Pa.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 510
6.

国際会議録
国際会議録
6. Large-area definition of nanoelectrodes by nanoimprint lithography
Wissen, M. ; Scheer, H.-C. ; Schulz, H. ; Horstmann, J. T. ; Scherff, M. ; Fahrner, W. R.
出版情報: Fifth International Symposium on Instrumentation and Control Technology : 24-27 October 2003, Beijing, China.  pp.122-129,  2003.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5253
7.

国際会議録
国際会議録
7. Hydrogen-plasma-enhanced thermal donor formation in n-type high-resistivity MCZ silicon
Simoen, E. ; Huang, Y. L. ; Claeys, C. ; Raft, J. M. ; Job, R. ; Fahrner, W. R. ; Versluys, J. ; Clauws, P.
出版情報: Crystalline defects and contamination: their impact and control in device manufacturing IV : DECON 2005 : proceedings of the Satellite Symposium to ESSDERC 2005, Grenoble, France.  pp.165-175,  2005.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2005-10
8.

国際会議録
国際会議録
8. Control of Stress in Surface Engineered Silicon
Ma, Y. ; Job, R. ; Zolgert, B. ; Dungen, W. ; Huang, Y. L. ; Fahrner, W. R.
出版情報: Surface engineering 2004 - fundamentals and applications : symposium held November 30-December 2, 2004, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.99-104,  2005.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 843
9.

国際会議録
国際会議録
9. Luminescence Characterization and Application of Diamond
Zaitsev, A. M. ; Melnikov, A. A. ; Denisenko, A. V. ; Varichenko, V. S. ; Job, R. ; Fahrner, W. R.
出版情報: Diamond for electronic applications.  pp.113-,  1996.  Pittsburgh, Pa..  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 416
10.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
10. Si/SiO2 Intrinsic States and Interface Charges Chapter 1: Origin, properties, models, impact
Fahrner, W. R. ; Klausmann, E. ; Braunig, D.
出版情報: NASA Technical Reports.  (HMI-B-413),  pp.1-166,  1984.  National Aeronautics and Space Administration