1.

国際会議録
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1. MICROSTRUCTURAL CHARACTERIZATION OF GaAs SUBSTRATES
Moore, T.M. ; Matteson, S. ; Duncan, W.M. ; Matyi, R.J.
出版情報: Materials characterization : symposium held April 15-17, 1986, Palo Alto California, U.S.A..  pp.379-384,  1986.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 69
2.

国際会議録
国際会議録
2. POURIER TRANSFORM PHOTOLUMINESCENCE ANALYSIS OF TRACE IMPURITIES AND DEFECTS IN SILICON
Duncan, W.M. ; Eastwood, M.L.
出版情報: Materials characterization : symposium held April 15-17, 1986, Palo Alto California, U.S.A..  pp.225-230,  1986.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 69
3.

国際会議録
国際会議録
3. NONDESTRUCTIVE COMPOSITIONAL AND DEFECT CHARACTERIZATION OF CdZnTe ALLOYS USING PHOTOLUMINESCENCE SPECTROSCOPY
Duncan, W.M. ; Koestner, R.J. ; Tregilgas, J.H. ; Liu, H.-Y. ; Chen, M.-C.
出版情報: Properties of II-VI semiconductors : bulk crystals, epitaxial films, quantum well structures, and dilute magnetic systems : symposium held November 27-December 2, 1989, Boston, Massachusetts, U.S.A..  pp.39-44,  1990.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 161
4.

国際会議録
国際会議録
4. Pad Oxide Roughening in a Remote Plasma Etch Process for Silicon Nitride Using an In Situ Spectral Ellipsometer
Loewenstein, L.M. ; Pohlmeier, R.K. ; Watts Butler, S. ; Henck, S.A. ; Duncan, W.M.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Highly Selective Dry Etching and Damage Control.  pp.373-384,  1993.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1993-21
5.

国際会議録
国際会議録
5. Rapid Scan Spectral Ellipsometry for In Situ Real-Time Wafer State Monitoring
Duncan, W.M. ; Henck, S.A. ; Kuehne, J.W. ; Loewenstein, L.M. ; Maung, S.
出版情報: Proceedings of the Symposium on Diagnostic Techniques for Semiconductor Materials and Devices.  pp.193-206,  1994.  Pennington, NJ.  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 1994-33
6.

国際会議録
国際会議録
6. DLP switched blaze grating: the heart of optical signal processing (Invited Paper)
Duncan, W.M. ; Lee, B.L. ; Rancuret, P. ; Sawyers, B.D. ; Endsley, L. ; Powell, D.
出版情報: MOEMS Display and Imaging Systems.  pp.242-249,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4985
7.

国際会議録
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7. DLP switched blaze grating: the heart of optical signal processing (Invited Paper)
Duncan, W.M. ; Lee, B.L. ; Rancuret, P. ; Sawyers, B.D. ; Endsley, L. ; Powell, D.
出版情報: MOEMS and Miniaturized Systems III.  pp.297-304,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4983