1.

国際会議録
国際会議録
1. Osmium related deep levels in p-InP and their interaction with alpha radiation
Parveen,S. ; Khan,A. ; Qurashi,U.S. ; Zafar,N. ; Iqbal,M.Z. ; Kohne,L. ; Dadgar,A. ; Bimberg,D.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part2  pp.831-836,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
2.

国際会議録
国際会議録
2. Alpha radiation-induced deep levels in p-InP
Khan,A. ; Qurashi,U.S. ; Zafar,N. ; Iqbal,M.Z. ; Dadgar,A. ; Bimberg,D.
出版情報: Defects in semiconductors, icds-19 : proceedings of the 19th International Conference on Defects in Semiconductors, Aveiro, Portugal, July 1997.  Part2  pp.843-848,  1997.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 258-263
3.

国際会議録
国際会議録
3. Silicon as a substrate in multiwafer MOVPE GaN technology
Alam,A. ; Schineller,B. ; Protzmann,H. ; Lunenburger,M. ; Heuken,M. ; Bremser,M.D. ; Woelk,E. ; Dadgar,A. ; Krost,A.
出版情報: Light-Emitting Diodes: Research, Manufacturing, and Applications V.  pp.158-164,  2001.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4278