1.

国際会議録
国際会議録
1. Plasma-induced charging damage in P+-Polysilicon PMOSFETs
Lu,I.M. ; Chen,Y.Y. ; Joshi,A.B. ; Kwong,D.L.
出版情報: Microelectronic Device Technology : 1-2 October 1997, Austin, Texas.  pp.275-282,  1997.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3212
2.

国際会議録
国際会議録
2. Process optimization of dual-gate CMOS
Liu,I.M. ; Chen,Y.Y. ; Connor,C. ; Joshi,A.B. ; Kwong,D.L.
出版情報: Microelectronic Device Technology : 1-2 October 1997, Austin, Texas.  pp.72-79,  1997.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3212