1.

国際会議録

国際会議録
Rocher A. ; Heral H. ; Charasse N. M. ; Georgakilas A. ; Chazelas J. ; Hirtz P. J. ; Blanck H. ; Siejka J.
出版情報: Evaluation of advanced semiconductor materials by electron microscopy.  pp.347-354,  1989.  New York.  Plenum Press
シリーズ名: NATO ASI series. Series B, Physics
シリーズ巻号: 203
2.

国際会議録

国際会議録
Charasse N. M. ; Bartenlian B. ; Hirtz P. J. ; Peugnet A. ; Chazalas J. ; Blank H.
出版情報: Heterostructures on silicon : one step further with silicon.  pp.7-12,  1989.  Dordrecht.  Kluwer Academic Publishers
シリーズ名: NATO ASI series. Series E, Applied sciences
シリーズ巻号: 160