1.

国際会議録

国際会議録
Kraft,S. ; Merken,P. ; Creten,Y. ; Putzeys,J. ; Hoof,C.A.Van ; Katterloher,R.O. ; Rosenthal,D. ; Rumitz,M. ; Grozinger,U. ; Hofferbert,R. ; Beeman,J.W.
出版情報: Sensors, systems, and next-generation satellites V : 17-20 September 2001, Toulouse, France.  pp.374-385,  2001.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4540
2.

国際会議録

国際会議録
Stahle,C.K. ; Bandler,S.R. ; Barbee,T.W.,Jr. ; Beeman,J.W. ; Brekosky,R.P. ; Cabrera,B. ; Cunningham,M. ; Deiker,S. ; Figueroa-Feliciano,E. ; Finkbeiner,F.M. ; Frank,M.A. ; Gendreau,K.C. ; Hilton,C.C. ; Irwin,K.D. ; Labov,S.E. ; Li,M.J. ; Madden,N.W. ; Martinis,J.M. ; McCammon,D.
出版情報: EUV, x-ray, and gamma-ray instrumentation for astronomy X : 21-23 July 1999 Denver, Colorado.  pp.82-93,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3765
3.

国際会議録

国際会議録
Kraft,S. ; Frenzl,O. ; Hermans,L. ; Katterloher,R.O. ; Rosenthal,D. ; Grozinger,U. ; Beeman,J.W.
出版情報: Infrared spaceborne remote sensing VII: 21-23 July 1999, Denver, Colorado.  pp.214-220,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3759
4.

国際会議録

国際会議録
Geis,N. ; Poglitsch,A. ; Raab,W. ; Rosenthal,D. ; Kettenring,G. ; Beeman,J.W.
出版情報: Infrared astronomical instrumentation : 23-25 March 1998, Kona, Hawaii.  Part 2  pp.973-985,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3354
5.

国際会議録

国際会議録
Cole,B. ; Hegmann,F.A. ; Williams,J.B. ; Sherwin,M.S. ; Beeman,J.W. ; Haller,E.E.
出版情報: Terahertz spectroscopy and applications : 25-26 January 1999, San Jose, California.  pp.164-173,  1999.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3617
6.

国際会議録

国際会議録
Rosenthal,D. ; Beeman,J.W. ; Geis,N. ; Looney,L.W. ; Poglitsch,A. ; Park,W.K. ; Raab,W. ; Urban,A.
出版情報: Airborne telescope systems : 27-28 March 2000, Munich, Germany.  pp.156-163,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4014
7.

国際会議録

国際会議録
Kraft,S. ; Frenzl,O. ; Charlier,O. ; Cronje,T. ; Katterloher,R.O. ; Rosenthal,D. ; Grozinger,U. ; Beeman,J.W.
出版情報: UV, optical, and IR space telescopes and instruments : 29-31 March 2000, Munich, Germany.  pp.233-243,  2000.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 4013
8.

国際会議録

国際会議録
Kreysa,E. ; Gemund,H.-P. ; Gromke,J. ; Haslam,C.G.T. ; Reichertz,L. ; Haller,E.E. ; Beeman,J.W. ; Hansen,V. ; Sievers,A. ; Zylka,R.
出版情報: Advanced technology MMW, radio, and terahertz telescopes : 26-28 March 1998, Kona, Hawaii.  pp.319-325,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3357
9.

国際会議録

国際会議録
Schnurr,R. ; Thompson,C.L. ; Davis,J.T. ; Beeman,J.W. ; Cadien,J. ; Young,E.T. ; Haller,E.E. ; Rieke,G.H.
出版情報: Infrared astronomical instrumentation : 23-25 March 1998, Kona, Hawaii.  Part 1  pp.322-331,  1998.  Bellingham, Wash..  SPIE-The International Society for Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3354
10.

国際会議録

国際会議録
Wolk,J.A. ; Kruger,M.B. ; Heyman,J.N. ; Beeman,J.W. ; Gui-iron,J.G. ; Bourret,E.D. ; Walukiewicz,W.W. ; Jeanloz,R. ; Haller,E.E.
出版情報: Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991.  Pt.2  pp.757-762,  1992.  Zurich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 83-87