1.

国際会議録
国際会議録
1. Kodak AMSD mirror program: overview and cryo test results
Matthews, G. ; Barrett, D. ; Bolton, J. ; Dahl, R. ; Michaels, E. ; Mallette, M. ; Johnson, J.
出版情報: Optical manufacturing and testing V : 3-5 August 2003, San Diego, California, USA.  pp.169-179,  2003.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5180
2.

国際会議録
国際会議録
2. 6H and 4H-SiC Bulk Growth by PVT and Advanced PVT (APVT)
Gupta, A. ; Yoganathan, M. ; Semenas, E. ; Zwieback, I. ; Emorhokpor, E. ; Martin, C. ; Kerr, T. ; Souzis, A. ; Anderson, T. ; Chen, J. ; Tanner, C. ; Barrett, D. ; Hopkins, R. ; Johnson, C.
出版情報: Silicon carbide 2004--materials, processing and devices : symposium held April 14-15, 2004, San Francisco, California, U.S.A..  pp.15-20,  2004.  Warrendale, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 815
3.

国際会議録
国際会議録
3. Growth of Large Diameter SiC Crystals by Advanced Physical Vapor Transport
Anderson, T. ; Barrett, D. ; Chen, J. ; Emorhokpor, E. ; Gupta, A. ; Hopkins, R. ; Souzis, A. ; Tanner, C. ; Yoganathan, M. ; Zwieback, I. ; Choyke, W. J. ; Devaty, R. P. ; Yan, F.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2004 : ECSCRM 2004 : proceedings of the 5th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, August 31 - September 4 2004, Bologna, Italy.  pp.9-12,  2005.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 483-485
4.

国際会議録
国際会議録
4. Controlled Growth of Bulk 15R-SiC Single Crystals by the Modified Lely Method
Schulze, N. ; Barrett, D. ; Weidner, M. ; Pensl, G.
出版情報: Silicon carbide and related materials - 1999 : ICSCRM'99, proceedings of the International Conference on Silicon Carbide and Related Materials - 1999, Research Triangle Park, North Carolina, USA, October 10-15, 1999.  pp.111-114,  2000.  Zuerich, Switzerland.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 338-342(1)
5.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
5. Comparative Study Between a Cut-Back and Conventional Trailing Edge Film Cooling System.
Telisinghe, J.C. ; Ireland, P.T. ; Jones, T.V. ; Barrett, D. ; Son, C.
出版情報: A.S.M.E. paper.  2006.  New York, NY.  American Society of Mechanical Engineers
シリーズ名: ASME Technical Paper : GT
シリーズ巻号: 2006