1.

国際会議録
国際会議録
1. Research on modern testing technique of optical system resolution based on CCD imaging theory and DLP occurring figure device
Li, Z. ; Li, L. ; Zeng, C. ; An, Z.
出版情報: Optical design and testing II : 8-12 November 2004, Beijing, China.  pp.777-782,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5638
2.

国際会議録
国際会議録
2. The project realization of eliminating stereo display flicker [6030-27]
Zhang, G. ; An, Z. ; Feng, D.
出版情報: ICO20 : display devices and systems : 21-26 August, 2005, Changchun, China.  pp.60300R-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6030
3.

国際会議録
国際会議録
3. Research on modern testing technique of optical system magnifying ratio based on CCD imaging theory
Shi, L. ; Zeng, C. ; Li, L. ; An, Z.
出版情報: Optical design and testing II : 8-12 November 2004, Beijing, China.  pp.133-139,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5638
4.

国際会議録
国際会議録
4. Research on testing technique of image inclining and graduation inclining of optical system based on CCD imaging theory
Cao, W. ; Yang, R. ; An, Z. ; Li, X.
出版情報: Optical design and testing II : 8-12 November 2004, Beijing, China.  pp.140-145,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5638
5.

国際会議録
国際会議録
5. Fabrication of SiGe-on-insulator and applications for strained Si (Invited Paper)
Lin, C. ; Liu, W. ; An, Z. ; Di, Z. ; Zhang, M.
出版情報: Fifth International Conference on Thin Film Physics and Applications : 31 May-2 June, 2004, Shanghai, China.  pp.136-141,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5774
6.

国際会議録
国際会議録
6. Relaxed SiGe-on-insulator substrates through implanting oxygen into pseudomorphic SiGe/Si heterostructure
Zbang, M. ; An, Z. ; Wu, Y. ; Di, Z. ; Chu, P. ; Lin, C.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XI : proceedings of the international symposium.  pp.111-116,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-5
7.

国際会議録
国際会議録
7. Studies on novel SOI-structure with MN film as buried insulator
Lin, C. ; Zhu, M. ; Men, C. ; An, Z. ; Zhang, M.
出版情報: Silicon-on-insulator technology and devices XI : proceedings of the international symposium.  pp.51-56,  2003.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号: 2003-5
8.

国際会議録
国際会議録
8. Interface Electronic Structures of Transition Metal(Cr, Fe) on 6H(4H)-SiC(0001)Si Face by Soft X-Ray Fluorescence Spectroscopy
Hirai, M. ; Kamezawa, C. ; Azatyan, S. ; An, Z. ; Shinagawa, T. ; Fujisawa, T. ; Kusaka, M. ; Iwami, M.
出版情報: Silicon carbide and related materials 2003 : ICSCRM, 2003 : proceedings of the 10th International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2003, Lyon, France, October 5-10, 2003.  pp.427-430,  2004.  Uetikon-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 457-460
9.

テクニカルペーパー
テクニカルペーパー
9. A New Method to Convert Crankshaft Position Sensor (CPS) Signals into Angular Acceleration for Engine Combustion Evaluation.
Zhen, L. ; An, Z. ; Li, Q. ; Wang, B.
出版情報: 2009 SAE Noise and Vibration Conference and Exhibition : technical paper.  2009.  Warrendale, Penn..  Society of Automotive Engineers
シリーズ名: Society of Automotive Engineers technical paper series
シリーズ巻号: 2009
10.

国際会議録
国際会議録
10. Research on testing technique of exit pupil parameter of optical system based on CCD imaging theory
Fan, Q. ; Xiao, Z. ; An, Z. ; Shi, L.
出版情報: Optoelectronic Devices and Integration.  pp.190-194,  2004.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5644