1.

国際会議録
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1. Picosecond nonlinear optical transmission measurement in SiO2/TiO2 one-dimensional photonic crystals [6352-143]
Kim, M. J. ; Hwang, J. ; Lee, S. M. ; Rhee, B. K. ; An, I. ; Uw, J. W.
出版情報: Optoelectronic materials and devices : 5-7 September, 2006, Gwangju, South Korea.  pp.63523Q-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6352
2.

国際会議録
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2. SUB-SURFACE EQUILIBRATION OF HYDROGEN WITH THE a-Si:H NETWORK UNDER FILM GROWTH CONDITIONS
An, I. ; Li, Y.M. ; Wronski, C.R. ; Collins, R.W.
出版情報: Amorphous silicon technology, 1993 : Symposium held April 13-16, San Francisco, California, U.S.A..  pp.43-48,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 297
3.

国際会議録
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3. EFFECT OF GAS PHASE HYDROGEN-DILUTION ON THE NUCLEATION, GROWTH, AND INTERFACES OF a-Si1-XCX:H
Lu, Y. ; An, I. ; Gunes, M. ; Wakagi, M. ; Wronski, C.R. ; Collins, R.W.
出版情報: Amorphous silicon technology, 1993 : Symposium held April 13-16, San Francisco, California, U.S.A..  pp.31-36,  1993.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 297
4.

国際会議録
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4. Optical anisotropy approach in spectroscopic ellipsometry to determine the CD of contact hole patterns [6155-21]
Kyoung, J. ; Cheon, H. ; Noh, S. ; Cho, J ; An, I. ; Lee, S. ; Cho, H
出版情報: Data analysis and modeling for process control III : 23 February, 2006, San Jose, California, USA.  pp.61550L-,  2006.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6155
5.

国際会議録
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5. Refractive index change during exposure for 193-nm chemically amplified resists
Oh, H. -K. ; Sohn, Y. -S. ; Sung, M. -G. ; Lee, Y. -M. ; Lee, E. -M. ; Byun, S. -H. ; An, I. ; Lee, K. -S. ; Park, I. -H.
出版情報: Microlithography 1999 : advances in resist technology and processing XVI : 15-17 March 1999, Santa Clara, California.  pp.643-650,  1999.  Bellingham, Wash., USA.  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 3678
6.

国際会議録
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6. OPTOELECTRONIC PROPERTIES OF PLASMA CVD a-Si:H MODIFIED BY FILAMENT-GENERATED ATOMIC H
Li, Y.M. ; An, I. ; Gunes, M. ; Dawson, R.M. ; Collins, R.W. ; Wronski, C.R.
出版情報: Amorphous silicon technology, 1992.  pp.57-62,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 258
7.

国際会議録
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7. MODIFICATION OF a-Si(:H) BY THERMALLY GENERATED ATOMIC HYDROGEN: A REAL TIME SPECTROSCOPIC ELLIPSOMETRY STUDY OF Si BOND BREAKING
An, I. ; Li, Y. ; Wronski, C.R. ; Collins, R.W.
出版情報: Amorphous silicon technology, 1992.  pp.27-32,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 258
8.

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8. OPTICAL PROPERTIES AND STRUCTURE OF MICROCRYSTALLINE SILICON
Nguyen, H.V. ; An, I. ; Li, Y. ; Wronski, C.R. ; Collins, R.W.
出版情報: Amorphous silicon technology, 1992.  pp.235-240,  1992.  Pittsburgh, Pa..  Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 258
9.

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9. Real-Time Characterization of Non-Ideal Surfaces and Thin-Film Growth by Advanced Ellipsometric Spectroscopies
Collins, R. W. ; Rovira, P. I. ; Ferlauto, A. S. ; Koh, J. ; An, I. ; Zapien, J. A. ; Messier, R. ; Wronski, C. R.
出版情報: In situ process diagnostics and modelling : symposium held April 6-7, 1999, San Francisco, California, U.S.A..  pp.43-,  1999.  Warrendale, PA.  MRS - Materials Research Society
シリーズ名: Materials Research Society symposium proceedings
シリーズ巻号: 569
10.

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10. Cycloolefin copolymer containing hindered hydroxyl group for 1 93nm photoresist
Kim, S.-K. ; An, I. ; Oh, H.-K. ; Lee, S. M. ; Bok, C. K. ; Moon, S. C.
出版情報: Advances in resist technology and processing XXII : 28 February-2 March, 2005, San Jose, California, USA.  pp.592-602,  2005.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 5753(1)