1.

国際会議録
国際会議録
1. Effects of Very High Neutron Fluence Irradiation on p+n Junction 4H-SiC Diodes
F. Moscatelli ; A. Scorzoni ; A. Poggi ; M. Passini ; G. Pizzocchero ; R. Nipoti
出版情報: Silicon carbide and related materials 2006 : ECSCRM 2006, Proceedings of the 6th European Conference on Silicon Carbide and Related Materials, Newcastle upon Tyne, UK, September 2006.  pp.917-920,  2007.  Stafa-Zuerich.  Trans Tech Publications
シリーズ名: Materials science forum
シリーズ巻号: 556-557
2.

国際会議録
国際会議録
2. Electromigration Reliability Assessment of Cu-based Metallization Systems by a Wafer-Level Approach
M. Impronta ; A. Marras ; I. De Munari ; A. Scorzoni ; M. Grazia Valentini
出版情報: 2007 International Conference on Semiconductor Technology for Ultra Large Scale Integrated Circuits and Thin Film Transistors (ULSIC vs. TFT).  pp.157-162,  2007.  Pennington, N.J..  Electrochemical Society
シリーズ名: ECS transactions
シリーズ巻号: 8(1)
3.

国際会議録
国際会議録
3. Ultra-low-power electronics and devices for a multisensing RFID tag
S. Zampolli ; I. Elmi ; G. C. Cardinali ; A. Scorzoni ; M. Cicioni ; S. Marco ; F. Palacio ; J. M. Gomez-Cama ; I. Sayhan ; T. Becker
出版情報: Smart sensors, actuators, and MEMS III : 2-4 May 2007, Maspalomas, Gran Canaria, Spain.  2007.  Bellingham, Wash..  SPIE - The International Society of Optical Engineering
シリーズ名: Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering
シリーズ巻号: 6589