Quality estimation of thick-film resistor terminations based on electrical parameters extraction

著者名:

• K. Kiełbasiński ( Institute of Electronic Materials Technology, Poland )
• M. Jakubowska ( Institute of Electronic Materials Technology, Poland )
• J. Kalenik ( Warsaw Univ. of Technology, Poland )
• A. Młożniak ( Institute of Electronic Materials Technology, Poland )

掲載資料名:

Photonics applications in astronomy, communications, industry, and high-energy physics experiments 2007

シリーズ名:

Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering

シリーズ巻号:

6937

発行年:

2008

巻:

1

開始ページ:

69371T-1

終了ページ:

69371T-6

総ページ数:

6

出版情報:

Bellingham, Wash.: Society of Photo-optical Instrumentation Engineers

ISSN:

0277786X

ISBN:

9780819471246 [0819471240]

言語:

英語

請求記号:

P63600/6937

資料種別:

国際会議録