The development of radon chamber based on dynamic replenishment model

著者名:

• S. Zhou ( East China Institute of Technology (China) )
• Y. Sun ( Nanjing Univ. of Science and Technology (China) )
• L. Lu ( East China Institute of Technology (China) )
• Y. Gao ( East China Institute of Technology (China) )

掲載資料名:

Sixth International Symposium on Instrumentation and Control Technology: Signal Analysis, Measurement Theory, Photo -Electronic Technology, and Artificial Intelligence : 13-15 October 2006, Beijing, China

シリーズ名:

Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering

シリーズ巻号:

6357

発行年:

2006

パート:

1

ペーパー番号:

635727

開始ページ:

635727-1

終了ページ:

635727-6

総ページ数:

6

出版情報:

Bellingham, Wash.: SPIE - The International Society of Optical Engineering

ISSN:

0277786X

ISBN:

9780819464521 [081946452X]

言語:

英語

請求記号:

P63600/6357

資料種別:

国際会議録