Poghosyan, G., Oechslin, R., Uryu, K., Thielemann, F. K.
Springer
|
Thielemann et al. -K. F.
Kluwer
|
Poghosyan, G., Oechslin, R., Uryu, K., Thielemann, F. K.
Springer
|
Poghosyan, A. R., Hovsepyan, R. K., Lazaryan, V. G.
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Poghosyan, G., Oechslin, R., Uryu, K., Thielemann, F. K.
Springer
|
A. K. Arakelyan, A. A. Arakelyan, S. A. Darbinyan, M. L. Grigoryan, I. K. Hakobyan, A. K. Hambaryan, V. V. Karyan, M. R. …
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Poghosyan, G., Oechslin, R., Uryu, K., Thielemann, F. K.
Springer
|
Aghamalyan, N. R., Hovsepyan, R. K., Poghosyan, A. R., Lazaryan, V. G.
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Poghosyan, G., Oechslin, R., Uryu, K., Thielemann, F. K.
Springer
|
Thielemann -K. F., Nomoto K., Yokoi K.
D. Reidel Publishing Company
|
Alaverdyan, G. B., Harutyunyan, A. R, Vartanyan, Yu. L.
Springer
|
Calado, J. C. G., Rubio, R. G., Streett, W. B.
American Chemical Society
|