MATERIAL CHARACTERIZATION OF EPITAXIAL GAAS AND Ge FILMS ON (100) Si SUBSTRATES
- 著者名:
AddulAwal M. Lee, El Hang Koos, G.L. Chan, E.Y. Celler, G.k. Sheng, T.T. - 掲載資料名:
- Heteroepitaxy on silicon : symposium held April 16-18, 1986, Palo Alto, California, U.S.A.
- シリーズ名:
- Materials Research Society symposium proceedings
- シリーズ巻号:
- 67
- 発行年:
- 1986
- 開始ページ:
- 93
- 終了ページ:
- 104
- 総ページ数:
- 12
- 出版情報:
- Pittsburgh, Pa.: Materials Research Society
- ISSN:
- 02729172
- ISBN:
- 9780931837333 [0931837332]
- 言語:
- 英語
- 請求記号:
- M23500/67
- 資料種別:
- 国際会議録
類似資料:
Materials Research Society |
Materials Research Society |
Materials Research Society | |
Materials Research Society |
SPIE-The International Society for Optical Engineering |
North Holland |
Materials Research Society |
MRS - Materials Research Society |
12
国際会議録
Epitaxial growth of Yb2O3 buffer layers on biaxially textured-Ni(100) substrates by Sol-Gel process
MRS-Materials Research Society |