Wavelength-shifting interferometry by a wide tunable laser source with a new phase-shifting technique

著者名:

• Higashi, M. ( Univ. of Industrial Technology (Japan) )
• Takahashi, T. ( Univ. of Industrial Technology (Japan) )
• Onodera, R. ( Univ. of Industrial Technology (Japan) )
• Ishii, Y. ( Univ. of Industrial Technology (Japan) )

掲載資料名:

Advanced materials and devices for sensing and imaging II : 8-10 November 2004, Beijing, China

シリーズ名:

Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering

シリーズ巻号:

5633

発行年:

2004

開始ページ:

598

終了ページ:

602

総ページ数:

5

出版情報:

Bellingham, Wash.: SPIE - The International Society of Optical Engineering

ISSN:

0277786X

ISBN:

9780819455888 [0819455881]

言語:

英語

請求記号:

P63600/5633

資料種別:

国際会議録