Blank Cover Image

High-Rate a-Si:H for TFTs: A Comparative Study

著者名:
掲載資料名:
Proceedings of the Third Symposium on Thin Film Transistor Technologies
シリーズ名:
Electrochemical Society Proceedings Series
シリーズ巻号:
96-23
発行年:
1996
開始ページ:
146
終了ページ:
157
出版情報:
Pennington, NJ: Electrochemical Society
ISSN:
01616374
ISBN:
9781566771733 [1566771730]
言語:
英語
請求記号:
E23400/970103
資料種別:
国際会議録

類似資料:

von der Linden, M.B., Schropp, R.E.I., Lekkerkerker, O.P., Daey Ouwens, J., van der Weg, W.F.

Materials Research Society

Schropp, R. E. I., Feenstra, K. F., Werf, C. H. M. van der, Holleman, J., Meiling, H.

MRS - Materials Research Society

Rath, J.K., Biebericher, A.C.W., Zambrano, R. Jimenez, Schropp, R.E.I., Weg, W.F. Van der, Goedheer, W.J.

Materials Research Society

Schropp, R. E. I., Feenstra, K. F., Werf, C. H. M. van der, Holleman, J., Meiling, H.

MRS - Materials Research Society

von der Linden, M.B., Schropp, R.E.I., Stammeijer, J.G.F., van der Weg, W.F.

Materials Research Society

Wallinga, J., Knoesen, D., Hamers, E. A. G., Sark, W. G. J. H. M. van, Weg, W. F. van der, Schropp, R. E. I.

MRS - Materials Research Society

Daey Ouwens, J., Schropp, R.E.I., van der Werf, C.H.M., von der Linden, M.B., Maree, C.H.M., van der Weg, W.F., Rava, …

Materials Research Society

Wallinga,J., Ouwens,J.Daey, Schropp,R.E.I., Weg,W.F.van der

Trans Tech Publications

Meiling, H., Boogaard, Van den M. J., Schropp, R. E. I., Bezemer, J., Weg, der Van W. F.

Materials Research Society

Schropp, R.E.I., Smits, M., Meiling, H., van Sark, W.G.J.H.M.

Materials Research Society

Schropp, R.E.I., Daey Ouwens, J., von der Linden, M.B., van der Werf, C.H.M., van der Weg, W.F., Alkemade, P.F.A.

Materials Research Society

Brockhoff, A.M., Meiling, H., Habraken, F. H. P. M., Schropp, R. B. I.

Electrochemical Society

1
 
2
 
3
 
4
 
5
 
6
 
7
 
8
 
9
 
10
 
11
 
12