On the Nature of Grown-In Defects in Silicon: Dependence on Pulling Conditions and Evolution During Thermal Treatments
- 著者名:
Vanhellemont, J. Kissinger, G. Senkader, S. Graef, D. Kenis, K. Depas, M. Lambert, U. Wagner, P. - 掲載資料名:
- Proceedings of the Fourth International Symposium on High Purity Silicon
- シリーズ名:
- Electrochemical Society Proceedings Series
- シリーズ巻号:
- 96-13
- 発行年:
- 1996
- 開始ページ:
- 226
- 終了ページ:
- 237
- 出版情報:
- Pennington, NJ: Electrochemical Society
- ISSN:
- 01616374
- ISBN:
- 9781566771566 [1566771560]
- 言語:
- 英語
- 請求記号:
- E23400/963433
- 資料種別:
- 国際会議録
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