Time-frequency characterization of random systems

著者名:

• Galleani, L. ( City Univ. of New York (USA) )
• Cohen, L. ( City Univ. of New York (USA) )

掲載資料名:

Advanced signal processing algorithms, architectures, and implementations XIII : 6-8 August, 2003, San Diego, California, USA

シリーズ名:

Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering

シリーズ巻号:

5205

発行年:

2003

開始ページ:

21

終了ページ:

37

総ページ数:

17

出版情報:

Bellingham, Wash.: SPIE - The International Society of Optical Engineering

ISSN:

0277786X

ISBN:

9780819450784 [0819450782]

言語:

英語

請求記号:

P63600/5205

資料種別:

国際会議録