X-Ray Diffraction Residual Stress Measurement Reliability: Stressed Reference Samples

著者名:

• Ferreira, C.
• Francois, M.
• Guillen, R.

掲載資料名:

ECRS 6 : proceedings of the 6th European Conference on Residual Stresses, Coimbra, Portugal, 10-12 July, 2002

シリーズ名:

Materials science forum

シリーズ巻号:

404-407

発行年:

2002

開始ページ:

573

終了ページ:

578

総ページ数:

6

出版情報:

Uetikon-Zuerich, Switzerland: Trans Tech Publications

ISSN:

02555476

ISBN:

9780878499007 [0878499008]

言語:

英語

請求記号:

M23650

資料種別:

国際会議録