Neural network applications in automated optical inspection: state of the art

著者名:

• Cho, H.S. ( Korea Advanced Institute of Science and Technology (South Korea) )
• Park, W.S.

掲載資料名:

Algorithms and systems for optical information processing VI : 8-10 July, 2002, Seattle, Washington, USA

シリーズ名:

Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering

シリーズ巻号:

4789

発行年:

2002

開始ページ:

224

終了ページ:

236

総ページ数:

13

出版情報:

Bellingham, Washington: SPIE-The International Society for Optical Engineering

ISSN:

0277786X

ISBN:

9780819445568 [0819445568]

言語:

英語

請求記号:

P63600/4789

資料種別:

国際会議録