Dubois C., Bissonnette E., Rola-Pleszczynski M.
Springer-Verlag
|
Rosenthal J. G., Stranahan III, P. R., Fort M. M., Luster I. M.
Springer-Verlag
|
Brown M. G., Li Y. X., Donaldson K.
Plenum Press
|
Weiler M., Tilkes F., Beck G. E.
Springer-Verlag
|
Fiers W., Beyaert R., Brouchaert P., Everaerdt B., Grooten J., Haegeman G., Libert C., Suffys P., Takahashi N., …
Springer-Verlag
|
Kagan E., Georgian M. M., Hartmann P. D.
Springer-Verlag
|
Henderson F. R., Hobbs H. C., Hahn F. F., Benson M. J., Pickrell A. J., Silbaugh A. S.
Springer-Verlag
|
R. Goel, G. F. Paciotti, J. C. Bischof
Society of Photo-optical Instrumentation Engineers
|
Stockem P., Tilkes F., Beck G. E.
Springer-Verlag
|
Davies R., Erdogdu G., Hill J. R., Edwards H. J.
Springer-Verlag
|
Marmiroli, S., Bavelloni, A., Faenza, I., Sood, R., Santi, S., Cecchi, S., Maradli, N. M., Ognibene, A.
Springer-Verlag
|
Prevost C. M., Coulasis E., Cariven C., Chap H., Douste-Blazy L.
Plenum Press
|