On the Microscopic Structures of Three Different Arsenic Antisite-Related Defects in Gallium Arsenide Studied by Optically Detected Electron Nuclear Double Resonance

著者名:

• Spaeth,J.-M.
• Krambrock,K.
• Hesse,M.

掲載資料名:

Proceedings of the 17th International Conference on Defects in Semiconductors : ICDS-17, Gmunden, Austria, July 18-23, 1993

シリーズ名:

Materials science forum

シリーズ巻号:

143-147

発行年:

1994

巻:

Pt.1

開始ページ:

217

終了ページ:

222

出版情報:

Zurich, Switzerland: Trans Tech Publications

ISSN:

02555476

ISBN:

9780878496716 [0878496718]

言語:

英語

請求記号:

M23650

資料種別:

国際会議録