X-Ray Diffraction Measurements of Grain Size as a Function of Orientation in Primary Recrystallized Silicon-Iron

著者名:

• Fortunati,S.
• Abbruzzese,G.

掲載資料名:

Grain growth in polycrystalline materials II : proceedings of the 2nd International Conference on Grain Growth in Polycrystalline Materials, held in Kitakyushu, Japan, 17-20 May, 1995

シリーズ名:

Materials science forum

シリーズ巻号:

204-206

発行年:

1996

パート:

2

開始ページ:

743

終了ページ:

748

出版情報:

Zurich-Uetikon, Switzerland: Trans Tech Publications

ISSN:

02555476

ISBN:

9780878497195 [0878497196]

言語:

英語

請求記号:

M23650

資料種別:

国際会議録