New traps for H｡?in boron- and phosphorus-doped silicon

著者名:

• Korpas,L.
• Corbett,J.W.
• Estreicher,S.K.

掲載資料名:

Proceedings of the 16th International Conference on Defects in Semiconductors : Lehigh University, Bethlehem, Pennsylvania, 22-26 July 1991

シリーズ名:

Materials science forum

シリーズ巻号:

83-87

発行年:

1992

巻:

Pt.1

開始ページ:

27

終了ページ:

32

出版情報:

Zurich, Switzerland: Trans Tech Publications

ISSN:

02555476

ISBN:

9780878496280 [0878496289]

言語:

英語

請求記号:

M23650

資料種別:

国際会議録