Verheijden F. G., Verlaan I., Moolenaar H. W.
Springer-Verlag
|
Sotiroudis G. T., Zevgolis G. V., Baltas G. L., Kyriakidis M. S.
Springer-Verlag
|
Yang L., Baffy G., Rhee G. S., Williamson R. J.
Springer-Verlag
|
Defize K. H. L., Boonstra J., van Bergen en Henegouwen P. M. P., Verkley J. A., de Laat W. S.
Springer-Verlag
|
HOUSLAY D. M., MURPHY J. G., HEYWORTH M. C., PYNE J. N., WAKELAM O. J. M.
Springer-Verlag
|
Brandt-Rauf,P.W., Do,T.N., Weinberg,M.D., Smith,S.J.
IOS Press
|
Moolenaar H. W.
Springer-Verlag
|
HOUSLAY D. M., BUSHFIELD M., KILGOUR E., LAVAN B., GRIFFITHS S., PYNE J. N., TANG -Y. K. E., MURPHY J. G.
Springer-Verlag
|
Boonstra J., Defize K. H. L., van Bergen en Henegouwen P. M. P., De Laat W. S., Verkleij J. A.
Springer-Verlag
|
Hart, Stefan, Gschwind, Andreas, Roidl, Andreas, Ullrich, Axel
Kluwer Academic Publishers
|
Liu, T.C., Jiao, J.-L., Zhu, L., Rui, D., Xu, X.-Y., Liu, S.-H.
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Larocca N. J., Golly F., Makman H. M., Cervone A., Ledeen W. R.
Springer-Verlag
|