|
Kameyama M., Kameyama A., Takano E., Yazawa K., Yasui K., Murachi T.
Springer-Verlag
|
Hosey M. M., Brawley M. R., Chang F. C., Gutierrez M. L., Mundina-Weilenmann C., Ma J., Rios E.
Springer-Verlag
|
Cavalie A., Allen A. J. T., Trautwein W.
Springer-Verlag
|
Trautwein W.
Plenum Press
|
Ishii, K., Yanase, K., Suzuki-Yoshihashi, S., Yamamoto, M., Chihara, K., Tabata, Y., Awazu, K.
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Lester S. D., Asher C., Garty H.
Plenum Press
|
Meireles,S.M., Cordeiro,J.M., Vale,M.G.P., Oliveira,C.R., Goncalves,P.P.
IOS Press
|
|
Bentrop J., Paulsen R.
Plenum Press
|
Dahmus E. M., Bartholomew B., Cadena L. D., Dahmus K. G., Kim -Y. W., Laybourn J. P., Payne J.
Kluwer Academic Publishers
|
Yuan -J. X., Salvaterra G. C., Tod L. M., Juhaszova M., Goldman F. W., Rubin J. L., Blaustein P. M.
Plenum Press
|