Double shear speckle interferometry for curvature measurement

著者名:

• Ganesan,A.R. ( Indian Institute of Technology Madras )
• Murukeshan,V.M.
• Meinlschmidt,P.
• Sirohi,R.S.

掲載資料名:

Laser interferometry VIII--techniques and analysis : 6-7 August, 1996, Denver Colorado

シリーズ名:

Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering

シリーズ巻号:

2860

発行年:

1996

開始ページ:

184

終了ページ:

191

出版情報:

Bellingham, Wash.: SPIE-The International Society for Optical Engineering

ISSN:

0277786X

ISBN:

9780819422484 [0819422487]

言語:

英語

請求記号:

P63600/2860

資料種別:

国際会議録