Monitoring the aging of high-power laser diode arrays (Invited Paper)

著者名:

Tomm,J.W. ( Max-Born-Institut fur Nichtlineare Optik und Kurzzeitspektroskopie (FRG) )

Barwolff,A. ( Max-Born-Institut fur Nichtlineare Optik und Kurzzeitspektroskopie (FRG) )

Lienau,C. ( Max-Born-Institut fur Nichtlineare Optik und Kurzzeitspektroskopie (FRG) )

Richter,A, ( Max-Born-Institut fur Nichtlineare Optik und Kurzzeitspektroskopie (FRG) )

Jaeger,A. ( Max-Born-Institut fur Nichtlineare Optik und Kurzzeitspektroskopie (FRG) )

Donecker,J. ( Institut fur Kristallzuchtung (FRG) )

Gerhardt,A. ( Institut fur Kristallzuchtung (FRG) )

Daminger,F.X. ( Jenoptik Laserdiode GmbH (FRG) )

Heinemann,S. ( Jenoptik Laserdiode GmbH (FRG) )

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掲載資料名:

International Conference on Optical Diagnosis of Materials and Devices for Opto-, Micro-, and Quantum Electronics : 13-15 May 1997, Kiev, Ukraine

シリーズ名:

Proceedings of SPIE - the International Society for Optical Engineering

シリーズ巻号:

3359

発行年:

1998

開始ページ:

2

終了ページ:

13

出版情報:

Bellingham, Wash., USA: SPIE-The International Society for Optical Engineering

ISSN:

0277786X

ISBN:

9780819428080 [0819428086]

言語:

英語

請求記号:

P63600/3359

資料種別:

国際会議録