H. Baser, T. Selvam, J. Ofili, R. Herrmann, W. Schwieger
Elsevier
|
J. Bauer, T. Selvam, J. Ofili, E. Che, R. Herrmann, W. Schwieger
Elsevier
|
Schwieger, W., Selvam, T., Gravenhorst, O., Roessner, F., Pfander, N., Schogl, R., Mabande, G. T. P.
Elsevier
|
Ernst, H., Freude, D., Mildner, T., Pfeifer, H.
Elsevier
|
P. T. Dang, H. G. Le, D. V. Hoang, Y. Hoang, T. C. Dinh, L. H. Bui, H. T. K. Tran, P. H. Nguyen, T. A. Vu
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Inagaki, S., Fukushima, Y., Kuroda, K.
Elsevier
|
Ichikawa, M., Yamamoto, T., Pan, W., Shido, T.
Elsevier
|
A. Zampieri, H. Sieber, W. Schwieger, G.T.P. Mabande, T. Selvam, F. Scheffler, P. Greil
Elsevier
|
Patricia Pérez-Romo, M. de Lourdes Guzmán-Castillo, Héctor Armendáriz-Herrera, Juan Navarrete-Bolaños, R. Isela …
|
Schwieger, W., Rauscher, M., Monnig, R., Scheffer, F., Freude, D.
Elsevier
|
Selvam, T., Schwieger, W.
Elsevier
|
Ernst, H., Freude, D., Mildner, T., Wolf, I.
Elsevier
|