Stakheev, A. Yu., Lee, C. W., Park, S. J., Chong, P. J.
Elsevier
|
Kim, D. H., Hwang, I. C., Woo, S. I.
Elsevier
|
Shpiro, E. S., Joyner, R. W., Grunert, W., Hayes, N. W., Siddiqui, M. R. H., Baeva, G. N.
Elsevier
|
Poignat, F., Freysz, J. L., Daturi, M., Saussey, J., Lavalley, J. C.
Elsevier
|
Bouly, C., Chandes, K., Maret, D., Bianchi, D.
Elsevier
|
|
Simakov, A. V., Stoyanov, E. S., Rebrov, E. V., Sazonova, N. N.
SPIE - The International Society of Optical Engineering
|
Szanyi, J., Paffett, M. T.
MRS - Materials Research Society
|
G. L. Zhao, J. W. Teng, Z. K. Xie, W. M. Yang, Q. L. Chen, Y. Tang
Elsevier
|
Sarkany, J., Sachtler, W. M. H.
Elsevier
|
Yamaguchi, A., Inada, Y., Shido, T., Asakura, K., Nomura, M., Iwasawa, Y.
Elsevier
|
Amano, J., Shoji, O., Okumura, K., Niwa, M.
Elsevier
|