Frunza, L., Frunza, S., Schonhals, A., Bentrup, U., Fricke, R., Pitsch, I., Kosslick, H.
Elsevier Science B.V.
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Kosslick, H., Fricke, R., Miessner, H., Hoang, D.L., Storeck, W.
Elsevier
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Frunza, L., Kosslick, H., Pitsch, I., Frunza, S., Schonhals, A., Krause, C., Stallmach, F., Karger, J.
Elsevier
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Priimagi, A., Cattaneo, S., Ras, R. H. A., Valkama, S., Ikkala, O., Kauranen, M.
SPIE - The International Society of Optical Engineering
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Zubowa, H. -L., Bentrup, U., Kosslick, H., Fricke, R.
Elsevier
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Fricke, R., Richter, M., Schreier, E., Eckelt, R., Kosslick, H.
Elsevier
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Frunza, L., Kosslick, H., Schoenhals, A., Pitsch, I., Frunza, S.
SPIE-The International Society for Optical Engineering
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Estevao, L. R. M., Nascimento, R. S. V.
MRS-Materials Research Society
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Fricke, R., Richter, M., Zubowa, H. -L., Schreier, E.
Elsevier
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Wang, S., Abeygunaratne, S., Chien, L-C.
MRS - Materials Research Society
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Fricke, R., Zubowa, H. -L., Richter-Mendau, J., Schreier, E., Steinike, U.
Elsevier
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Zecchina, A., Buzzoni, R., Bordiga, S., Geobaldo, F., Scarano, D., Ricchiardi, G., Spoto, G.
Elsevier
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